Fachvortrag: Neue thermische Analyse, Bestimmung der C und Si Gehalte innerhalb der Genauigkeitsgrenzen der chemischen und analytischen Verfahren

Von Unbekannt | 7. April 2006

18 Kollegen hatten sich am 07.04.2006 um 20:00 Uhr im Vereinslokal „Zur Glocke“ eingefunden, um den Vortrag von Herrn Dr. Lampic zu hören. „Neue thermische Analyse, Bestimmung der C und Si Gehalte innerhalb der Genauigkeitsgrenzen der chemischen und analytischen Verfahren“ war das Thema. Es wurde vom Vortragen kurzweilig und interessant vorgetragen. Er verstand es, durch seine Vortragsart, die Zuhörenden für das Thema zu interessieren. Das neue, unter seiner Mitwirkung vom IFG entwickelte Verfahren, zur schnelleren Bestimmung der C und Si Werte, ermöglicht es diese Werte innerhalb von ca. 40 Sekunden zu bestimmen und das mit einer hohen Genauigkeit die es bis dahin nicht gegeben hat. Es ermöglicht dem Gießer, die vom Kunden geforderten Kennzahlen in kurzer Zeit zu bestimmen. Dieses Verfahren, zu dem ein neuer Tiegel entwickelt wurde, wird von der Fa. Heraeus Electro Nite vertrieben. Im Anschluss an den Vortrag stand Herr Dr. Lampic noch für die Beantwortung der Fragen zur Verfügung. Wir bedanken uns bei Herrn Dr. Lampic für diesen interessanten Vortrag. Der Abend wurde in gemütlicher Runde und mit einem Imbiss beendet.